Este instrumento realiza microscopía de fuerza atómica para medir características superficiales e imágenes para obleas de semiconductores, máscaras de litografía, medios magnéticos, CD/DVD, biomateriales, óptica, entre una multitud de otras muestras. (En la imagen: Seth Darling, científico del grupo de dispositivos y materiales electrónicos y magnéticos).
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