La cobertura de fallas se refiere al porcentaje de algún tipo de falla que se puede detectar durante la prueba de cualquier sistema diseñado. La alta cobertura de fallas es particularmente valiosa durante las pruebas de fabricación, y se utilizan técnicas como Design For Test (DFT) y la generación automática de patrones de prueba para aumentarla.
En electrónica , por ejemplo, la cobertura de fallas atascadas se mide colocando cada pin del modelo de hardware en el '0' lógico y el '1' lógico, respectivamente, y ejecutando los vectores de prueba. Si al menos una de las salidas difiere de lo esperado, se dice que se detectó la falla. Conceptualmente, la cantidad total de ejecuciones de simulación es el doble de la cantidad de pines (ya que cada pin está atascado de una de dos maneras y se deben detectar ambas fallas). Sin embargo, hay muchas optimizaciones que pueden reducir el cálculo necesario. En particular, a menudo se pueden simular muchas fallas que no interactúan en una sola ejecución, y cada simulación se puede terminar tan pronto como se detecta una falla.
Una prueba de cobertura de fallas pasa cuando se puede detectar al menos un porcentaje específico de todas las posibles fallas. Si no pasa, al menos tres opciones son posibles. En primer lugar, el diseñador puede aumentar o mejorar el conjunto de vectores, quizás mediante el uso de una herramienta de generación de patrones de prueba automática más eficaz . En segundo lugar, el circuito se puede redefinir para una mejor detección de fallas (controlabilidad y observabilidad mejoradas). Tercero, el diseñador puede simplemente aceptar la cobertura más baja.
El término cobertura de prueba, utilizado en el contexto de la programación/ingeniería de software, se refiere a medir cuánto se ha ejercitado un programa de software mediante pruebas. La cobertura es un medio para determinar el rigor con el que se ha respondido a la pregunta que subyace a la prueba. Hay muchos tipos de cobertura de prueba:
Cada uno de estos tipos de cobertura asume que existe algún tipo de línea de base que define el sistema bajo prueba. Por lo tanto, el número de tipos de cobertura de prueba varía según el número de formas de definir el sistema.